日本岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101(已停产)

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粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。

尤其是在前沿科学领域，诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域，粒径多在纳米数量级，对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。

另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。

测定范围：0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低！

 特点：

• 主机（测量部）
  
  >>使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300μm 粒径范围
  符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300μm的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。

   

  >>采用紫色半导体激光
  由于采用了的紫色半导体激光，可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外，以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置，由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题，也迎刃而解。

  >>采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素
  光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素，均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。

  >>采用SLIT光学系统，用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光
  采用了SLIT（Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪）光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品，可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统，打破了一般常识，可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光，实现了微粒子领域的高分辨率。

  >>能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化，时间间隔最短可以做到1s
  市场上其他的产品都需要至少10s以上。

  >>适用于超微粒子的湿法测量专用机
  是适合于涂料、颜料，食品，饮料，医药品，化妆品，乳剂，精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。

  >>力求光学系统的稳定性
  采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。

  >>样品池摘取简单
  采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。

  >>使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源
  光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。

  >>配备激光光束安全系统
  双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。

• 多功能进样器
  
  >>内置供水泵
  多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。

   

  >>装载CPU
  多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。

• 软件
  
  >>具有多种功能测量/数据处理的软件
  名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。
  多种统计方法：数目、体积、表面积和长度。

   

  >>应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算
  所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。

  >>附加自我诊断功能、保养容易
  编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。

  >>装备操作日志（Operation Log）功能
  操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。